INNIO Group坐落于奧地利顏巴赫 (Jenbach)，是一家致力于創(chuàng)新能源生產(chǎn)和壓縮系統(tǒng)研發(fā)制造的企業(yè)。由于大型發(fā)動機(jī)的功率不斷提高，單個組件承受的機(jī)械應(yīng)力也不斷增加，位于顏巴赫的 INNIO Group 總部早在 10 年前就引入了清潔度檢測標(biāo)準(zhǔn)。為確定有害殘留污染物顆粒的來源，自2015 年起INNIO Group開始使用蔡司EVO 掃描電子顯微鏡進(jìn)行檢測。

　　例如，如果有沙粒大小的金屬顆粒進(jìn)入連桿軸承，就會導(dǎo)致軸承中的油膜破裂。潤滑不足會增加曲軸和連桿軸承之間的摩擦，從而導(dǎo)致嚴(yán)重?fù)p壞。對一臺總重達(dá) 91 噸、連桿軸承長近 7 米、重達(dá) 8.5 噸的發(fā)動機(jī)(如顏巴赫 J920) 進(jìn)行損壞修復(fù)是一項復(fù)雜而成本昂貴的工作。維修也會大大推遲向客戶交付發(fā)動機(jī)的時間。發(fā)動機(jī)的功率密度越高，清潔度檢測就越重要。

　　顏巴赫發(fā)動機(jī)的持續(xù)升級對其組件影響顯著。通過將機(jī)械效率提升至超過 50%，并增強(qiáng)對甲烷指數(shù)、氫氣比例及生物氣體的燃料靈活性，發(fā)動機(jī)的最高壓力與軸承負(fù)荷增加，熱負(fù)荷也隨之升高。這就需要使用更堅硬的軸承和更嚴(yán)格的公差。但這也增加了油膜因臨界顆粒而破裂的風(fēng)險。

　　▲“清潔度檢測在我們的生產(chǎn)中至關(guān)重要，我們借助蔡司掃描電鏡ZEISS EVO Mat 25進(jìn)行檢測，確保100%達(dá)到技術(shù)規(guī)范，使我們的發(fā)動機(jī)能長時間保持高品質(zhì)運(yùn)行。“ INNIO Group 運(yùn)營副總裁兼現(xiàn)場經(jīng)理Martin Mühlbacher說道。

　　新的生產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)

　　2012/2013 年INNIO Group決定引入清潔度檢測標(biāo)準(zhǔn)，促使 INNIO 顏巴赫工廠經(jīng)歷了一場重大變革。借鑒汽車行業(yè)的經(jīng)驗并遵循 VDA 19 指南，首先對整個生產(chǎn)過程進(jìn)行了模擬設(shè)計。接著，工廠針對敏感組件定義了清潔度規(guī)范，并確定了生產(chǎn)中的高度關(guān)鍵區(qū)域，共涉及約 800 項改進(jìn)步驟。

　　INNIO Group 為了能夠分析組件上的殘留污染物，還建立了一個實驗室，配備了專門開發(fā)的設(shè)備，用于沖洗重達(dá)數(shù)噸的組件。公司還發(fā)開了一種吸塵器，內(nèi)置特制的旋風(fēng)濾膜，用于分析和清潔發(fā)動機(jī)的關(guān)鍵區(qū)域，并投資購置了能檢測殘留污染物顆粒分析濾膜的顯微鏡。蔡司EVO掃描電子顯微鏡在發(fā)現(xiàn)和清除潛在污染源方面發(fā)揮著關(guān)鍵作用。

　　▲ 蔡司EVO掃描電子顯微鏡在其中發(fā)揮了關(guān)鍵作用

　　用于測定材料的掃描電子顯微鏡

　　利用 ZEISS EVO確定材料成分及顆粒來源，需先將顆粒與組件分離，這一過程在INNIO位于顏巴赫的 Tecsa 實驗室進(jìn)行。通過特殊清洗機(jī)從組件上清洗下來的殘留污染物顆粒會被濾膜捕獲。然后在現(xiàn)場用光學(xué)顯微鏡對該濾膜進(jìn)行檢測。ZEISS EVO SEM 搭載 ZEISS Smart Particle Investigator(Smart PI)軟件，用于顆粒分析與分類。該軟件符合現(xiàn)行的 ISO 和 VDA 技術(shù)潔凈度標(biāo)準(zhǔn)，將操作 SEM、處理圖像和執(zhí)行基本分析所需的所有功能整合到一個應(yīng)用程序中。

　　▲ZEISS EVO SEM與用于顆粒分析和分類的軟件ZEISS Smart Particle Investigator(Smart PI)配合使用

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