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一次掃描檢查隱藏結構ZEISS METROTOM 1 借助易于使用的ZEISS METROTOM 1的蔡司工業(yè)CT技術,只需一次掃描,任何人都能有效完成復雜的測量和檢查任務。測
一次掃描檢查隱藏結構ZEISS METROTOM 1
借助易于使用的ZEISS METROTOM 1的蔡司工業(yè)CT技術,只需一次掃描,任何人都能有效完成復雜的測量和檢查任務。測量并檢測接觸式或光學測量系統(tǒng)無法檢測到的隱藏缺陷和內(nèi)部結構。另一個巧妙之處在于ZEISS METROTOM 1的尺寸。由于體積小,CT掃描系統(tǒng)很容易便能放置于您的測量實驗室之中,可以一次性完成內(nèi)部測量和檢查。
一個CT系統(tǒng),兼具多種優(yōu)勢
ZEISS METROTOM 1使用工業(yè)計算機斷層掃描技術,是升級您的質(zhì)量檢查產(chǎn)品組合的理想設備。CT系統(tǒng)擁有許多優(yōu)勢:
操作簡便
ZEISS METROTOM 1是以用戶為基礎建造的。安裝過程簡單,只需進行少量培訓就能使用CT。只需輕輕一點,即可開始掃描流程!
精準的測量
小而徹底:您可以使用ZEISS Metrotom 1測量并評估完整的零件。這樣,您可以信賴您的測量,進行準確的數(shù)模比對、尺寸檢查和壁厚分析。
占地面積小
蔡司METROTOM 1非常緊湊。尺寸為1750 mm(長) x 1820 mm(高) x 870 mm(寬)。這意味著CT系統(tǒng)適合任何測量實驗室——可以讓您在公司內(nèi)部進行測量和質(zhì)量保證,而無需外部測量服務。
投資回報快
購置成本低,且得益于合宜的系統(tǒng)維護保養(yǎng)費用,您的設備持有將變得物超所值:ZEISS METROTOM 1的射線管無需維護保養(yǎng)。
ZEISS METROTOM 1——緊湊而可靠
先進的CT技術,用于所有測量實驗室
蔡司是CT技術領域的專家,十多年以來,其METROTOM系列一直在提供可靠的CT系統(tǒng)。蔡司計算機斷層掃描系統(tǒng)METROTOM 1現(xiàn)在為每個人都提供了可靠的X射線技術和無損質(zhì)量保證。
測量完整組件、 確保零件無瑕疵
使用ZEISS METROTOM 1,您可以在您的測量實驗室里輕松檢測出工件的隱藏缺陷。無論是中型還是小型零件,是塑料還是輕金屬材質(zhì) - 使用ZEISS METROTOM 1,您可以檢查各種零件,如連接器、塑料蓋、鋁制零件等等。
GOM Volume Inspect
全面的3D CT數(shù)據(jù)分析
ZEISS METROTOM 1配有操作和檢測軟件GOM Volume Inspect(體積檢測)。軟件適合初學者使用,結合了CT流程的所有階段——從掃描設置和重建,到數(shù)據(jù)評估和報告。軟件可以精準地評估幾何形狀、孔隙或內(nèi)部結構和裝配情況。即使是超小的缺陷也可以通過單個截面圖像看到,并且可以使用多種標準自動進行評估。只需一個軟件,您就可以將幾個組件的體積數(shù)據(jù)加載到項目中,執(zhí)行趨勢分析,并將采集到的3D數(shù)據(jù)與CAD模型進行比較等等。
應用領域:
無損檢測、一次掃描多個工件。
檢查特點:
測量內(nèi)部和外部結構、檢查內(nèi)部缺陷(如縮孔)。
X射線源 |
160 kV |
X射線探測器 |
2.5 k |
測量容積 |
165 x 140 mm |
測量規(guī)格(MPE SD) |
< 5 μm |
尺寸 |
1750 mm(寬) x 1820 mm(高) x 870 mm(厚) |
重量 |
2100 kg |
軟件 |
GOM Volume Inspect體積檢測(已包含) |